Author index
Adams, J. E.
Ahlberg, J.
Al-Mazeed, A. H.
Åström, K.
Ba, S. O.
Baker, S.
Bakstein, H.
Bangham, A.
Bangham, J. A.
Bangham, J. A.
Baradez, M.-O.
Bhalerao, A. H.
Bogomolov, Y.
Bouganis, C.-S.
Boyer, E.
Boyer, E. .-
Brady, K.
Brookes, M.
Brown, M.
Brubaker, S. J.
Buxton, B. F.
Calway, A. D.
Cawley, G. C.
Cech, J.
Chambon, S.
Chan, K.-Y.
Chum, O.
Cipolla, R.
Clocksin, W. F.
Collomosse, J. P.
Connor, K. R.
Constantinides, A. G.
Cootes, T. F.
Costen, N. P.
Cristinacce, D.
Crouzil, A.
Culverhouse, P. F.
Dante, A.
DePiero, F. W.
de Ridder, D.
Dornaika, F.
Dror, G.
Drummond, T. W.
Ericsson, A.
Fang, J.
Fauzi, M. F. A.
Felsberg, M.
Feris, R. S.
Fitzgibbon, A. W.
Flack, J.
Franc, V.
Franco, J.-S.
Freixenet, J.
Fua, P.
Gatica-Perez, D.
Gehrig, N.
Gibson, S. E.
Gibson, S. J.
Glauert, J. R. W.
Goh, W.-B.
Gong, S.
Gonzalez-Banos, H. H.
Graham, J.
Graves, A.
Guilbert, N.
Gunn, S. R.
Hack, C. A.
Hall, P. M.
Hammond, P.
Hancock, E. R.
Harvey, R.
Hicks, Y. A.
Hills, M.
Hilton, A.
Hoppe, A.
Hu, C.
Hu, Z.
Huang, J.
Hutton, T. J.
Ikeda, O.
Ishikawa, T.
Jermyn, I. H.
Jones, G. A.
Kamijima, S.
Kee, S. C.
Discriminant Analysis by Locally Linear Transformations
T.-K. Kim (Samsung Advanced Institute of Technology (SAIT)), J. Kittler (University of Surrey (UniS)), H.-C. Kim (Pohang University of Science and Technology) and S. C. Kee (Samsung Advanced Institute of Technology (SAIT)).
Kim, H.-C.
Discriminant Analysis by Locally Linear Transformations
T.-K. Kim (Samsung Advanced Institute of Technology (SAIT)), J. Kittler (University of Surrey (UniS)), H.-C. Kim (Pohang University of Science and Technology) and S. C. Kee (Samsung Advanced Institute of Technology (SAIT)).
Kim, T.-K.
Discriminant Analysis by Locally Linear Transformations
T.-K. Kim (Samsung Advanced Institute of Technology (SAIT)), J. Kittler (University of Surrey (UniS)), H.-C. Kim (Pohang University of Science and Technology) and S. C. Kee (Samsung Advanced Institute of Technology (SAIT)).
Kittler, J.
Discriminant Analysis by Locally Linear Transformations
T.-K. Kim (Samsung Advanced Institute of Technology (SAIT)), J. Kittler (University of Surrey (UniS)), H.-C. Kim (Pohang University of Science and Technology) and S. C. Kee (Samsung Advanced Institute of Technology (SAIT)).
Kittler, J.
Kong, D.
Kostkova, J.
Kou, Z.
Krueger, N.
Kruppa, H.
Kubota, H.
Lapchev, S.
Leibe, B.
Lepetit, V.
Lewis, P. H.
Lladó, X.
Ma, L.
Magee, D. R.
Marhaban, M. H.
Marshall, D.
Martí, J.
Matthews, I.
Matuszewski, B. J.
Maxwell, B. A.
McNally, D.
Mellor, J.
Michel, D.
Mikolajczyk, K.
Mills, S.
Mirmehdi, M.
Mitchelson, J. R.
Myerscough, P. J.
Nixon, M. S.
Odobez, J.-M.
Olafsdottir, H.
Oliver, A.
Ono, M.
Pajdla, T.
Pajdla, T.
Pallares Bejarano, A.
Paterson, J. A.
Patrick, S.
Petrou, M.
Porter, S. V.
Pridmore, T. P.
Pugeault, N.
Qiu, G.
Ragheb, H.
Rajpoot, N. M.
Reid, I.
Revell, J.
Rivlin, E.
Rob, M. A.
Roberts, M. G.
Rogers, M.
Rosten, E.
Rowntree, D.
Rudzsky, M.
Saito, H.
Sara, R.
Schiele, B.
Schmid, C.
Shark, L.-K.
Smeraldi, F.
Smith, J.
Solomon, C. J.
Stenger, B.
Sturm, P.
Sung, E.
Sébastien, C. S.
Takeshi, M.
Tan, T.
Tan, T.
Tao, H.
Taylor, C. J.
Thayananthan, A.
Theobald, B.-J.
Thirde, D. J.
Thodberg, H. H.
Thomas, B. T.
Tonge, R. P.
Torr, P.
Tresadern, P. A.
Turk, M.
Varley, M. R.
Vecerka, D.
Venkateswarlu, R.
Vogiatzis, G.
Wang, H.
Wang, J.-G.
Wang, J.
Wang, Y.
Werner, T.
Wilczkowiak, M.
Wilson, R. C.
Wu, F.
Xiang, T.
Xiao, B.
Xie, X.
Yao, A.
Zerubia, J.
Zhang, C.
Zhang, H.
Zisserman, A.